عنـوان: طراحی و تحلیل سلول حافظه SRAM با قابلیت اطمینان بالا در تکنولوژی FinFET

ارائه كننده : لیلا باقریه       دانشجوي رشته: دکتری مهندسی برق الکترونیک

استاد راهنما: دکتر سیروس طوفان      استاد مشاور: دکتر رقیه سعیدی

مكان : سالن کاوه            تاريخ : 19/11/96  روز: پنجشنبه   ساعت: 10